EDX8000T PLUS 參考價:188000
Simply The Best微光斑垂直光路,專為鍍層厚度分析而設計,可分析不規(guī)則樣品厚度高計數(shù)率硅漂移檢測器 (SDD) 可實現(xiàn)快速,無損,高精度測量高分辨率...鍍層測厚光譜儀 參考價:面議
材料的鍍層厚度是一個重要的生產(chǎn)工藝參數(shù),鍍層厚度的控制在產(chǎn)品質量、過程控制、成本控制中都發(fā)揮著重要作用。英飛思開發(fā)的EDX8000T Plus鍍層測厚儀是專門針...膜厚儀X射線鍍層測厚儀 參考價:100000
膜厚儀X射線鍍層測厚儀EDX8000T膜厚儀EDX-8000T 型XRF鍍層測厚儀/電鍍液分析儀Simply The Best垂直光路設計,專為鍍層厚度分析而設...X射線鍍層測厚儀 參考價:面議
X射線鍍層測厚儀EDX8000T PLUS微光斑垂直光路,專為鍍層厚度分析而設計高計數(shù)率硅漂移檢測器 (SDD) 可實現(xiàn)快速,無損,高精度測量高分辨率樣品觀測系...EDX-8000B光譜膜厚儀 參考價:面議
EDX-8000B型XRF鍍層測厚儀是將X射線照射在樣品上,通過從樣品上反射出來的第二次X射線的強度來測量鍍層等金屬薄膜的厚度,因為沒有接觸到樣品且照射在樣品上...XRF鍍層測厚儀 參考價:面議
XRF鍍層測厚儀是將X射線照射在樣品上,通過從樣品上反射出來的第二次X射線的強度來測量鍍層等金屬薄膜的厚度,因為沒有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線能量很低,所...